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日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K100 系列具有更長的行程和更高的負載，使其*適合于安裝板檢查。 間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個間距，您不僅可以選擇柱塞*端形狀，還可以選擇負載。您可以選擇*適合您需求的型號。 專為半導體測試中大電流、高機械應力場景優(yōu)化，適用于嚴苛環(huán)境下的PCB功能測試、功率模塊驗證及老化測試。

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K075 與標準型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載 使其*適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個間距 您不僅可以選擇柱塞*端形狀，還可以選擇負載。您可以選擇*適合您需求的型號。

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針 以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點，適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場景。

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型K039與標準型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載. 使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個間距，您不僅可以選擇柱塞*形狀，還可以選擇負載。 KITA K039 是一款微型高負荷彈簧探針，專為半導體PCB測試中的 高密度、高精度接觸需求 設計.

日本KITA 半導體PCB 檢查的彈簧探針標準型K-026-2CAK2系列是KITA公司針對PCB（印刷電路板）測試（如ICT、FCT）設計的標準彈簧探針（Test Probe）. 以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結構為特點，廣泛應用于電子制造領域的測試環(huán)節(jié)。

日本KITA半導體器件彈簧探針高頻KPS040-004CA適用于0.5mm和0.8mm間距的高頻產品。 1.5 毫米（使用時為 1.1 毫米）的短長度可通過短路徑長度實現低損耗。 采用高導電材料（如鍍金銅合金）減少信號傳輸損耗，確保高頻信號的完整性。

日本KITA半導體器件彈簧探針大電流、高溫是彈簧探頭耐高溫200°C，在高溫、大電流測試環(huán)境中表現出色。 其產品尤其擅長應對大電流和高溫環(huán)境，適用于半導體器件測試、晶圓測試、封裝測試等嚴苛場景。

日本KITA半導體器件彈簧探針非磁性是該彈簧探頭由非磁性材料制成，可用于必須消除磁性影響的測試環(huán)境。 適用于磁敏感環(huán)境（如MRI設備、高精度傳感器測試）或避免磁化污染的半導體測試。

日本KITA半導體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）適用于高精度測試中使用的 4 端測量的彈簧探頭。 使兩個探針與半導體器件的一個端子接觸。探頭間距有 0.3、0.4、0.5mm 三種可選。

日本KITA半導體器件彈簧探針細間距（0.15~0.25mm間距）應用中扮演著關鍵角色. 主要用于高密度互連測試（如晶圓測試、芯片測試、PCB測試等） 彈簧探針內置于 IC 插座中，作為將被測設備垂直連接到電路板的電路。實現了低阻力、高耐久性。